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鑽石淨度

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鑽石淨度為鑽石視覺上的潔淨程度,為鑽石4C標準之一。影響其等級的瑕疵分為二者,內部的瑕疵稱為內含物(英語:inclusion ),表面的缺陷稱為表面瑕疵(英語:blemish )。評鑑鑽石淨度的準則,包括了上述瑕疵的數量、大小、種類、位置、明顯度等對鑽石整體外觀的影響程度。鑽石淨度的評級必須在十倍放大鏡(Triplet lens)檢視下進行。

內含物可能為包覆在鑽石內的其他礦物晶體,或者本生的晶體缺陷呈現霧狀白色。而大部分的鑽石都含有極細微的內含物,不影響鑽石本身的美感,也無法由肉眼觀察。但較大的內含物會阻礙光線在鑽石內穿透,影響鑽石的閃耀程度。靠近或延伸至表面的裂紋有可能受應力而加長增深,甚至崩裂。

淨度等級越高,鑽石的價格也就隨之增高。此外,內含物記載鑽石形成時的地質環境,並可作為分辨真偽、天然或合成鑽石的依據。

內含物及表面瑕疵

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內含物又稱為內部特徵,表面瑕疵又稱為表面特徵,乃因珠寶產業避免使用負面詞語,且每一顆鑽石都有屬於自己獨一無二的特徵。

內含物

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  • 瘀痕 Bruise : 伴隨有根狀羽裂紋的撞擊區域,由側刻面觀察,瘀痕呈現向內部放射的棉絮構造。
  • 洞痕 Cavity : 觸及鑽石表面的晶體掉落或在切磨過程中所留下的坑洞。
  • 缺口 Chip : 鑽石表面上的淺開口,通常為圓弧狀,特指在鑽石切磨完成後才發生的損傷。
  • 雲狀物 Cloud : 由許多緊聚的針點組成,聚集一起時呈霧白或灰狀,或似一團白色粉末。過大且濃的雲狀物會降低鑽石的透明度,進而影響亮光及美感。
  • 羽裂紋 Feather : 泛指鑽石內的任何破裂紋。
  • 含晶 Included crystal : 包裹在鑽石內部的礦物晶體。
  • 內凹天然面 Indented natural : 鑽石原礦的表皮上可能有三角形或平行凹槽的生長印記,在加工後未去除而陷於刻面之下。
  • 內部孿晶紋 Internal graining : 鑽石晶體生長不規則所產生,其外貌可為多條平行直線、歪斜線或波浪曲線。
  • 晶結 Knot :內部延伸至表面刻面的鑽石晶體。晶結和宿主鑽石成長方向不同,會造成拋磨加工的困難。
  • 針狀物 Needle : 鑽石內部所含的細長晶體。針狀物可能為白色或暗色。
  • 針點 pinpoint : 為很小的晶體,10倍放大下看似小點,針點通常為白色,但偶也呈黑色。
  • 雷射洞 Laser drill hole : 改善鑽石深色內含物外觀的一種處理痕跡。使用雷射光束,由鑽石表面鑽孔至內含物,若內含物未被雷射光破壞,則會沿者雷射造成的細小孔洞注入酸液,將深色內含物加以漂白,以改善鑽石的視覺淨度。

表面瑕疵

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  • 磨損痕 Abrasion : 是刻面稜線上一系列極細微的小缺口,稜線呈現白霧狀。磨損痕多因不細心地安置多項珠寶,致使其相互磨擦所成。
  • 刮痕 Scratch : 表面細小白霧線,可為直線或曲線。
  • 小缺口 Nick : 小型不具明顯深度開口,通常出現在腰邊或刻面稜線上。小缺口比缺口更小、更淺。
  • 拋光線 Polish line : 拋光後所留下輕微的平行紋路,白色或透明。發生於任何刻面,但不會越過稜線。
  • 白點 Pit : 似小白點的細小開口。
  • 蜥蜴皮 Lizard skin : 已切磨的鑽石刻面上如波浪或漣漪狀連續凸起區域。
  • 天然面 Natural : 鑽石原石部份的表皮未去除而保留在成品上。
  • 額外刻面 Extra facet : 不再鑽石的原始刻面設計中,多磨出來的小刻面。通常是因為試圖磨掉某一表面特徵,或是切磨過程的小誤失。
  • 粗糙腰圍 Rough girdle : 不規則滿佈小凹坑或粒狀的腰圍表面。
  • 表面攣晶紋 Surface graining : 已磨鑽石表面上一道或多道透明線,鑽石晶體結構不規則所產生。表面孿晶紋與內部孿晶紋具關聯性,並可能同時出現。

分級

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美國寶石學院 (GIA)

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GIA鑽石淨度級別

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GIA鑽石淨度標準[1]
類型 無瑕級 內部無瑕級 極輕微瑕級 輕微內含級 微內含級 內含級
等級 FL IF VVS1 VVS2 VS1 VS2 SI1 SI2 I1 I2 I3

GIA鑽石淨度標準,分為6個類型,11個等級[2] ,如下:

  • 無瑕級 (FL) 在10倍放大鏡下觀察,鑽石沒有任何內含物或表面瑕疵
  • 內無瑕級 (IF) 在10倍放大鏡下觀察,鑽石內部沒有任何內含物,而表面有微不足道的瑕疵,可藉由磨光去除。
  • 極輕微內含級 (VVS) 在10倍放大鏡下觀察,鑽石內部有極微細的瑕疵,即使是專業鑑定師也很難看到。
  • 輕微內含級 (VS) 在10倍放大鏡下觀察,鑽石的瑕疵可見,但非常微小。
  • 微內含級 (SI) 在10倍放大鏡下觀察,鑽石有清晰可見的瑕疵。
  • 內含級 (I) 瑕疵在10倍放大鏡觀察下非常明顯,肉眼觀察亦可看見,並且影響了鑽石的堅固度或透明度和閃亮度。
GIA鑽石淨度評級流程
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GIA實驗室配有珠寶顯微鏡,具備無段變焦功能、暗場照明、頭照燈等等功能。觀察鑽石內部應使用暗場照明,只允許反射光進入顯微鏡光學系統,遮蔽直射光,使背景黑暗,以利觀察。 評級前應先徹底清潔過,鑑定師以鑷子夾住鑽石腰圍,檢查桌面及底尖,然後再以鑷子夾住桌面及底尖,檢查側面。每當一刻面檢察完畢,即調整鑽石角度及位置,檢查下一處刻面。 使用暗場照明發現瑕疵後,切換至頭照燈以確定瑕疵的位置在鑽石表面或內部。鑑定師可以用較高的放大倍率確定瑕疵的種類並製圖,但最終檢查仍以十倍倍率放大評估整體外觀。

美國寶石協會(AGS)

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AGS 鑽石淨度級別[3]
GIA FL IF VVS1 VVS2 VS1 VS2 SI1 SI2 I1 I2 I3
AGS 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10

美國寶石協會以數字0至10劃分鑽石淨度,可大至對應於GIA評級系統。無瑕級與內部無瑕級皆為等級0,但會註記是否有外部瑕疵。極輕微瑕級至輕微內含級分別對應數字1至4,數字5至10細分微內含級及內含級之類型。

EGL 鑽石淨度級別
GIA FL IF VVS1 VVS2 VS1 VS2 SI1 SI2 I1 I2 I3
EGL USA FL IF VVS1 VVS2 VS1 VS2 SI1 SI2 SI3[4] I1 I2 I3
EGL India FL IF VVS1 VVS2 VS1 VS2 SI1 SI2 SI3 P1 P2 P3

歐洲寶石學院在SI2及I1之間增添SI3等級,此等級常常被解讀為I1等級中內含物較不易被肉眼察覺者。

淨度評級考量因素

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淨度評級是由專業評級師在十倍放大鏡下,對鑽石淨度做出整體評估。評級師會找尋鑽石中的內含物,並考量五項因素:數量、大小、種類、位置、明顯度,加以評級。淨度評級會以最醒目的數個瑕疵作為主要判斷因素,次要的瑕疵並不影響等級,但仍會被繪製於鑑定書上。 未鑲嵌的裸鑽才能做出精確的淨度評級,因鑲材會遮掩部分的瑕疵,並阻礙光線照明。

大小

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通常瑕疵尺寸愈大愈易察覺,愈易察覺則影響等級愈大。

數量

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一般而言,瑕疵數量愈少,影響等級愈小。

位置

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瑕疵的位置亦會影響觀察的難易度,在桌面(table)下的內含物最容易被觀察,尤其是位在桌面下靠近亭部(pavilion)處,同一內含物會反射數次同時進入視野,嚴重隱響外觀。相較之下,靠近腰部(girdle)的內含物則不易被觀察,從亭部觀察又比從冠部(crown)觀察容易。 此外,延伸至冠部或腰部的較大羽裂紋、晶結、含晶會嚴重影響淨度評級,乃因上述瑕疵可能因外力撞擊造成羽裂紋更深、晶體掉落。有以上此種風險的鑽石會被評為內含級(I)。

種類

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瑕疵分為內部及外部,含有外部的'表面瑕疵',則等級為'內無瑕級'以下;含有內部的'內含物',等級為'極輕微內含級'以下。部分種類的瑕疵會影響鑽石的堅固,鑽石可能有破損的風險。

明顯度

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內含物因對比鑽石本體可被觀察,稱為"明顯度"。通常顏色愈深的內含物愈易觀察,而降低淨度評級,例外:黑色針點通常較白色針點不易看見。

稀少性

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鑽石原礦中約20%可作為珠寶,其餘80%因不夠乾淨而用於工業用途。作為珠寶產品的鑽石大多數含有肉眼可觀察的瑕疵,淨度愈高的鑽石相對愈稀少。在距離約十五公分(近點距離)由肉眼觀察而未能發現瑕疵者,稱為目下無暇(eye-clean)。

淨度優化處理

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常見的淨度優化處理包含雷射鑽孔處理及裂縫填充處理。

雷射鑽孔處理:從鑽石表面以雷射燒出一個直達內含物的小洞,或者加熱局部區域製造裂隙,再加以酸洗內含雜質。

裂縫填充處理:將折射率近似於鑽石的物質填充至具有裂縫中,使羽裂紋不易觀察。

GIA接受評級經雷射鑽孔處理的鑽石,但不接受評級經裂縫填充處理的鑽石,因雷射鑽孔為不可逆的永久變化,然而加熱會破壞填充物質,經常發生於鑲嵌時使用焊槍。鑽石若經優化處理,販售方應主動告知買家。

参考文献

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樊成著,《鑽石鑑定全書》,布克文化出版事業部,台北市,2014,ISBN 9789865728182

参考资料

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  1. ^ 鑽石4C標準:淨度. (原始内容存档于2015-07-11). 
  2. ^ What is the GIA Clarity Scale for diamonds?. (原始内容存档于2006-09-04). 
  3. ^ 存档副本. [2015-07-12]. (原始内容存档于2015-09-09). 
  4. ^ EGL USA use the SI3 grade in evaluating diamonds. [2015-07-12]. (原始内容存档于2019-08-27).